EDA
기술 및 시장을 선도하는 한국멘토(www.mentorkr.com, 대표 양영인)는 오늘, 본사가
ARM과 협력을 통해 ARM® 프로세서 기반으로 설계된 디자인 작업물의 제조 테스트를
지원하는 솔루션인 ‘테센트(Tessent®) 테스트콤프레스(TestKompress®)’
레퍼런스 플로’를 공동 개발하여 출시했다고 밝혔다.
멘토의
테센트 테스트콤프레스는 레퍼런스 플로에 포함된 설명서, 매끄러운 인터페이스 및
스크립트를 사용하여 ARM IP(설계자산)를 위한 테스트 솔루션을 빠르게 개발할 수
있도록 지원한다. 특히 이러한 작업은 고품질의 테스트, 낮은 테스트 비용 그리고
빡빡한 DFT(Design for Test: 테스트용 설계) 개발 일정에 최적화되어 있다.
오늘날의
SoC에는 대개 싱글 및 듀얼 포트 SRAM, 레지스터 파일, ROM을 비롯해 여러 가지 유형의
개별 SRAM으로 구성된 수백 개의 메모리 서브시스템이 포함된다. 또한 각 서브시스템
내에는 높은 전압에서 작동하는 고속 SRAM부터, 낮은 전압으로 작동하는 전력에 최적화된
SRAM에 이르기까지 다양한 메모리가 들어갈 수 있다. 이러한 모든 메모리는 개별
메모리 인스턴스의 크기, 총 SoC 메모리 크기, 프로세스 결함 레벨 및 성숙도에 따라
테스트 및 혹은 복구 요구 사항이 각기 다르다. 멘토의 ‘테센트’는 동작 속도 테스트
기능을 갖춘 자동화된 메모리 테스트 및 복구 솔루션으로 ‘ARM 아티산(Artisan®)’
메모리와 100% 일치하는 논리적-물리적 매핑을 제공한다.
또한
많은 메모리 SoC 서브시스템 외에도 프로세스 코어 내에 추가적으로 메모리가 내장되는데,
이는 업계 최소형의 풋프린트(footprint)로 최대 성능과 최저 전력을 달성하도록
맞춤화 되었다. 적절한 테스트에 대한 필요성으로 인해 복잡성이 가중되고 경우에
따라 이처럼 최적화된 코어에 포함된 메모리를 복구해야 하기 때문에, SoC 성능,
전력, 풋프린트 또는 비용에 대한 영향을 최소화한 상태로 수율을 극대화하는 테스트
및 복구 솔루션이 요구되고 있다.
이에
멘토와 ARM은 공동 연구를 통해 ‘테센트’를 사용하여 ARM MBIST 코어 인터페이스를
지원(임베디드 코어당 하나 이상의 인터페이스 제공)하도록 하여 코어의 전력, 성능
또는 면적에 대한 영향을 최소화하면서 각 코어 내의 모든 메모리를 완벽하게 테스트할
수 있도록 했다.
ARM의
DFT 매니저인 테레사 맥로린(Teresa McLaurin)은 “고객은 새로 선보인 테센트 테스트콤프레스(TestKompress®)
레퍼런스 플로를 통해 프로세서 코어 및 연관된 로직에 대한 경제적인 고품질 테스트를
수행하기 위한 단순하면서도 검증된 테스트 방법론을 얻게 될 것”이라며 “이는
테센트 메모리BIST(MemoryBIST) 제품을 사용하는 ARM 물리적 메모리 IP를 지원하기
위해 포괄적인 자동화 BIST(Built-in Self Test) 솔루션의 공동개발을 추진해온 양사의
노력의 하나이다”라고 밝혔다.
양사가
공동 개발한 제품 테스트 플로에서는 ARM 코어 및 로직과 고객 SoC에 사용되는 임베디드
메모리를 모두 테스트할 수 있다. 이 솔루션은 임베디드 압축 기능을 갖춘 멘토의
스캔 기반 DFT 및 자동 테스트 패턴 생성(ATPG: Automatic Test Pattern Generation)
툴과 자체 복구 기술이 적용된 메모리 BIST를 활용한다. 이 테스트 플로에서는 모든
테스트 압축 및 메모리 BIST IP를 통합 및 검증하고 필요한 모든 테스트 패턴을 생성하기
위한 모든 단계를 정의한다. 자동화 플로는 기본 스크립팅 및 구성 파일을 통해 한층
단순화된다.
멘토
실리콘 테스트 제품 부문의 스티브 파테라스(Steve Pateras) 제품 마케팅 책임자는
“ARM과의 공동 노력을 통해 양사의 고객이 최소한의 시간에 테스트 목표를 달성하도록
지원함으로써 ARM IP를 사용함에 따르는 출시 시간 이점이 향상되었으며, 이를 통해
모든 고객이 막대한 이점을 누리게 되었다”며 “또한 테센트 솔루션은 업계에서
가장 효율적인 테스트를 통해 순이익에도 기여하여 테스트 시간과 전반적인 제조
비용을 줄여 준다”고 밝혔다.